JEOL brengt gebruiksgemak, hoge resolutie en analysesnelheid samen in een nieuwe scanning elektronenmicroscoop.
De nieuwe compacte Jeol jsm-IT200 is in staat om zeer snel en eenvoudig SEM analyses uit te voeren dankzij nieuwe features.
– “Zeromag” koppelt een camerafoto rechtstreeks aan het SEM-beeld om snel de juiste locatie te bereiken.
– Autofuncties zorgen er vervolgens voor dat de beeldafregeling volledig automatisch gaat.
– Volledig geïntegreerde EDS maakt “Live EDS Analysis” mogelijk, zodat simultaan met beeldvorming de chemische samenstelling van het preparaat wordt aangegeven.
– Vervolgens kan in “Smile View™ Lab” zeer snel een rapport gegenereerd worden.
Flexibiliteit is ander kenmerk van dit nieuwe instrument, dat geen koelwater nodig heeft, weinig ruimte inneemt en snel te installeren is.
Lees meer